上海某科技企業(yè) TLRH系列精密型基礎測試探針臺 年前加急交付
核心指標：
真空吸附卡盤：4英寸
樣品臺位移精度：<3μm
探針座位移精度：<10μm
漏電流精度：<100fA
兼容多種光學顯微鏡，可外引光路實現(xiàn)光電mapping測試
是半導體材料或器件電學測試的理想選擇。
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