探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測(cè)試等用途。 KETF系列電學(xué)測(cè)試夾具是用于MOS管的接線測(cè)試，與Keithley2600系列源表配套使用，改進(jìn)了LO端和HI端接口不一致問題。該系列夾具由我司自研生產(chǎn)，一端采用美國(guó)原裝插排，另一端是LO和HI的標(biāo)準(zhǔn)三同軸接口，可與我司探針臺(tái)三軸公頭線纜直接連接，增加LO短接跳線,可以方便的將雙通道的兩個(gè)LO極短接在一起，提高測(cè)試精度，是一款方便好用的測(cè)試輔件。 |
 |  | 技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
. 適用于Keithley2600系列源表 . 改進(jìn)了LO端和HI端接口不一致問題 . 一端選用美國(guó)原裝插排，另一端是標(biāo)準(zhǔn)BNC或三軸接頭 . 可與我司探針臺(tái)三軸公頭線纜直接連接 . 增加LO短接跳線，方便LO極短接 . 用于MOS管接線測(cè)試，提高測(cè)試精度 |
常規(guī)選型：
產(chǎn)品型號(hào) | 接口類型 | 漏電精度 | 電壓范圍 | 適用源表 | KETF-EB | 同軸BNC | 10pA | ≤1400V | 2600系列 | KETF-EX | 三同軸接口 | 100fA | ≤1400V | 2600系列 |
應(yīng)用介紹： KEITHLEY 2600系列源表后面是一個(gè)插排，若直接測(cè)試會(huì)降低測(cè)試精度，我司該系列三軸連接器可以完全匹配該系列源表，增加LO端短接跳線,可以方便的將雙通道的兩個(gè)LO極短接在一起， 用于MOSFET等三端器件的接線測(cè)試，提高測(cè)試精度！
應(yīng)用領(lǐng)域： 半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、測(cè)量表面電阻率測(cè)試、精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)、航空航天實(shí)驗(yàn)等。
譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺(tái)系統(tǒng)，以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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