探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析，抽查測試等用途。 體視顯微鏡，亦稱實體顯微鏡，是從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的顯微鏡，因引入相機成像接口，故又稱三目體式顯微鏡。體式顯微鏡對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，像是直立的，便于操作和解剖，視場直徑大。體視顯微鏡較常規(guī)顯微鏡放大倍數(shù)不是很高，但其工作距離很長，焦深大，便于觀察被檢物體的全層。廣泛應用于金屬、半導體等領域的顯微觀察。 |
| 技術優(yōu)勢：
.總放大倍數(shù)達40.2~270倍 . 變焦0.7~4.5倍 .目鏡采用SWH10X高眼點超廣角目鏡，視場Φ23mm .圖像傳感器：1/2”，有效像素1600（H）*1200（V） .工作距離150mm ，升降范圍270mm . 帶外置LED高亮無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源以及穩(wěn)壓電源 . 24英寸高清顯示器 |
常規(guī)選型：
產(chǎn)品型號 | 變焦 | 總放大倍率 | 圖像傳感器 | ST61 | 0.7~4.5倍 | 40.2~270倍 | 1/2",1600*1200 |
應用領域： 半導體材料光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產(chǎn)檢測、航空航天實驗等。
譜量光電可根據(jù)客戶實際應用需求，定制配套探針臺系統(tǒng)，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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