探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析，抽查測試等用途。 單筒連續(xù)變倍顯微鏡是一種具有變焦功能的顯微鏡，允許用戶通過調整放大倍數來觀察不同的樣品和細節(jié)。其原理是通過改變光學系統中的透鏡組合來實現不同的放大倍數。它通常包括目鏡（相機）和物鏡兩個主要光學部分。單筒連續(xù)變倍顯微鏡通過旋轉物鏡或目鏡中的透鏡組合，可以實現連續(xù)變焦，從而改變放大倍數。這種顯微鏡允許用戶在不更換物鏡或目鏡的情況下，通過簡單的旋轉來實現不同放大倍數的選擇。在實際使用中具有較好的靈活性和多功能性。廣泛應用于科研及工業(yè)領域。 |
| 技術優(yōu)勢：
.變倍比1:6.5，變倍范圍0.75X~5X .集成雙固定卡位設計升降器，高倍放大下圖像無明顯抖動，升降器精密調節(jié)，具備粗調+精調，最高分辨率1μm .LED光源同軸照明 1920*1080高清成像相機 . 20倍超長工作距離物鏡，29.56mm工作距離 . 綜合最大放大倍數高達~900倍 . 24英寸高清顯示器 |
常規(guī)選型：
產品型號 | 變倍比 | 變倍范圍 | 物鏡倍率（可選） | 工作距離（mm） | 綜合放大倍數 | MT750-C | 1:6.5 | 0.75~5X | 20X | 29.56
| ~900 |
工作方式： 單筒連續(xù)變倍顯微鏡的工作方式相對簡單，用戶可通過以下步驟來操作： 觀察樣品：將要觀察的樣品放置在顯微鏡的載物臺上； 調整焦距：通過旋轉物鏡或目鏡中的透鏡組合來調整焦距。不同的放大倍數通常會在顯微鏡上標有刻度，用戶可以選擇所需的倍數； 對焦：使用焦點輪或對焦機構來調整焦點，使樣品清晰可見； 觀察：一旦完成對焦，您可以觀察樣品，通過相機成像和分析細節(jié)； 調整倍數：如果需要更改放大倍數以觀察不同的細節(jié)，只需旋轉透鏡組合以選擇新的倍數。
應用領域： 半導體材料光電檢測、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、測量表面電阻率測試、精密儀器生產檢測、航空航天實驗等。
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