探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測(cè)試等用途。 屏蔽箱是探針臺(tái)測(cè)試的輔助工具，它可以有效屏蔽外界點(diǎn)信號(hào)及光線干擾，提高測(cè)試精度。我司研發(fā)設(shè)計(jì)的電磁屏蔽箱分上下開(kāi)合式和左右對(duì)開(kāi)式，完美匹配我司所有型號(hào)探針臺(tái)產(chǎn)品，內(nèi)有多個(gè)預(yù)留口（加熱臺(tái)饋通口、光纖引入口、線纜預(yù)留口），方便后期測(cè)試模塊化集成，帶有進(jìn)口三同軸/同軸饋通件，方便探針座與外部源表連接，外引長(zhǎng)度1.5米饋通線纜，不會(huì)對(duì)測(cè)試操作造成任何不便，廣泛應(yīng)用于高精度電學(xué)參數(shù)測(cè)量及暗環(huán)境電學(xué)參數(shù)測(cè)量等場(chǎng)景。 |
| 技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
.材質(zhì)為優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，表面噴砂氧化發(fā)黑； . 上下/左右開(kāi)合結(jié)構(gòu)，門鎖設(shè)計(jì); .箱體外部集成真空開(kāi)關(guān)，方便控制真空卡盤； . 與我司探針臺(tái)匹配，內(nèi)有多個(gè)預(yù)留口，方便后期測(cè)試集成； . 配置進(jìn)口三同軸/同軸饋通件，方便探針座與外部源表連接; . 外引饋通線纜長(zhǎng)度1.5米; . 結(jié)構(gòu)尺寸可根據(jù)用戶需求定制。 |
常規(guī)選型：
產(chǎn)品型號(hào) | 尺寸（mm） | 接口 | 開(kāi)合方式 | 真空開(kāi)關(guān) | 線纜長(zhǎng)度（m） | TBS-60 | 600*800*750 | 同軸/三同軸 | 上下/左右 | 箱體集成 | 1.5 | TBS-45 | 450*600*700 | 同軸/三同軸 | 上下/左右 | 箱體集成 | 1.5 |
實(shí)驗(yàn)附件及常規(guī)測(cè)試步驟： 光學(xué)隔振平臺(tái)(臺(tái)面>600mm*600mm)、一臺(tái)計(jì)算機(jī)(標(biāo)準(zhǔn)VGA接口和USB接口)、吉時(shí)利2400數(shù)字源表（含軟件）等。 測(cè)試時(shí)連接探針臺(tái)和數(shù)字源表，探針接被測(cè)物體，通過(guò)顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測(cè)物表面，待連接導(dǎo)通后打開(kāi)源表軟件，選好參數(shù)即可出該觸點(diǎn)的I-V性能曲線。
應(yīng)用領(lǐng)域： 半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、測(cè)量表面電阻率測(cè)試、精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)、航空航天實(shí)驗(yàn)等。
譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺(tái)系統(tǒng)，以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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