探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)，主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)材料、芯片等進(jìn)行科研實(shí)驗(yàn)分析，抽查測(cè)試等用途。 單筒連續(xù)變倍顯微鏡是一種具有變焦功能的顯微鏡，允許用戶通過(guò)調(diào)整放大倍數(shù)來(lái)觀察不同的樣品和細(xì)節(jié)。其原理是通過(guò)改變光學(xué)系統(tǒng)中的透鏡組合來(lái)實(shí)現(xiàn)不同的放大倍數(shù)。它通常包括目鏡（相機(jī)）和物鏡兩個(gè)主要光學(xué)部分。單筒連續(xù)變倍顯微鏡通過(guò)旋轉(zhuǎn)物鏡或目鏡中的透鏡組合，可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)變焦，從而改變放大倍數(shù)。這種顯微鏡允許用戶在不更換物鏡或目鏡的情況下，通過(guò)簡(jiǎn)單的旋轉(zhuǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)不同放大倍數(shù)的選擇。在實(shí)際使用中具有較好的靈活性和多功能性。廣泛應(yīng)用于科研及工業(yè)領(lǐng)域。 |
| 技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
.變倍比1:6.5，變倍范圍0.75X~5X .集成雙固定卡位設(shè)計(jì)升降器，高倍放大下圖像無(wú)明顯抖動(dòng)，升降器精密調(diào)節(jié)，具備粗調(diào)+精調(diào)，最高分辨率1μm .LED光源同軸照明 1920*1080高清成像相機(jī) . 20倍超長(zhǎng)工作距離物鏡，29.56mm工作距離 . 綜合最大放大倍數(shù)高達(dá)~900倍 . 24英寸高清顯示器 |
常規(guī)選型：
產(chǎn)品型號(hào) | 變倍比 | 變倍范圍 | 物鏡倍率（可選） | 工作距離（mm） | 綜合放大倍數(shù) | MT750-C | 1:6.5 | 0.75~5X | 20X | 29.56
| ~900 |
工作方式： 單筒連續(xù)變倍顯微鏡的工作方式相對(duì)簡(jiǎn)單，用戶可通過(guò)以下步驟來(lái)操作： 觀察樣品：將要觀察的樣品放置在顯微鏡的載物臺(tái)上； 調(diào)整焦距：通過(guò)旋轉(zhuǎn)物鏡或目鏡中的透鏡組合來(lái)調(diào)整焦距。不同的放大倍數(shù)通常會(huì)在顯微鏡上標(biāo)有刻度，用戶可以選擇所需的倍數(shù)； 對(duì)焦：使用焦點(diǎn)輪或?qū)箼C(jī)構(gòu)來(lái)調(diào)整焦點(diǎn)，使樣品清晰可見(jiàn)； 觀察：一旦完成對(duì)焦，您可以觀察樣品，通過(guò)相機(jī)成像和分析細(xì)節(jié)； 調(diào)整倍數(shù)：如果需要更改放大倍數(shù)以觀察不同的細(xì)節(jié)，只需旋轉(zhuǎn)透鏡組合以選擇新的倍數(shù)。
應(yīng)用領(lǐng)域： 半導(dǎo)體材料光電檢測(cè)、功率器件測(cè)試、MEMS測(cè)試、PCB測(cè)試、液晶面板測(cè)試、測(cè)量表面電阻率測(cè)試、精密儀器生產(chǎn)檢測(cè)、航空航天實(shí)驗(yàn)等。
譜量光電可根據(jù)客戶實(shí)際應(yīng)用需求，定制配套探針臺(tái)系統(tǒng)，以達(dá)更好的測(cè)試效果及更高的性價(jià)比，具體信息可聯(lián)系詳詢。
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