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譜量光電（PLCTS）電致發(fā)光測試系統(tǒng)是一種用于測量發(fā)光器件（如OLED，QLED，PeLED等）光電性能的高精密設備。測試系統(tǒng)經過可溯源的光源進行定標，能夠進行測量亮度、色坐標、輻射通量、V-I 特性、EQE等數據。測量所需操作只要在軟件界面上就可完成，實現自動化測量。系統(tǒng)結構簡單，操作方便。整體系統(tǒng)體積小巧、操作簡單、測試高效等特性。系統(tǒng)主要由積分球、光纖光譜儀、多模光纖、Keithley數字源表、樣品夾具、積分球支架等組成。 積分球采用進口的高漫反射材料PTFE高溫燒制而成,反射率高達99%，200-2500nm光譜范圍內都具有良好的朗伯特性；光纖光譜儀采用濱松制冷型面陣CCD傳感器，具有高靈敏度、低噪聲、高信噪比低溫漂等特點。通過制冷技術抑制探測器熱噪聲，光譜儀的暗電流顯著降低，信噪比大幅提升，同時能夠檢測到更微弱的光信號，適用于透反射率、熒光、拉曼等微弱信號分析；源表配置Keithley主流2450型產品，測試精度高，噪聲小，保證測試準確度。
產品特點： ● 測量譜段寬，覆蓋紫外至近紅外 ● 操作簡便，易上手，即學即用 ● 實時顯示光譜數據，快速全光譜一鍵測量 ● 可測量隨電壓變化的參數走勢，如IV、亮度、輻照度等 ● 專用軟件內嵌計算算法，直接得到測量結果 ● 根據不同測量應用，模塊配置可任意搭配 | 應用領域： ● OLED顯示器件測試 ● 新型半導體激光器電光轉換 ● 鈣鈦礦太陽能電池檢測 ● 半導體發(fā)光器件研究 ● 柔性顯示/發(fā)光器件 ● 低維材料、碳納米材料的發(fā)光特性分析 |
技術參數：
| 型號 | 項目名稱
| 單位 | 指標 | ELCY-M
| 波長范圍 | nm
| 200-2500 | 檢測范圍 | nm | 200-1100 | 配置源表 | / | Keithley 2450 | | 積分球涂層 |
| PTFE | | 涂層反射率 | / | >98% | | 光譜儀信噪比 | / | 1000:1 | | 動態(tài)范圍 | / | 85000:1 | | 光纖接口 | / | SMA905 | | 光纖長度 | / | 1 | | 光纖芯徑 | μm | 1000 | | 可測參數 | / | EL譜，EQE外量子效率，時域穩(wěn)定性，IV，亮度，輻照度，色坐標等 | | 分析軟件 | / | TRSFie（自研，融合計算算法） | | 模塊組成 | / | 數字源表、積分球、光譜儀、光纖、系統(tǒng)支架、樣品夾具、分析軟件等 |
注：系統(tǒng)采用模塊化集成方案，各模塊可據實際應用及采購預算綜合選型，如光譜儀可選配常規(guī)款、制冷款、紅外款等。
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