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DCH40系列透射、反射、吸收光譜測試系統(tǒng)分積分球型和外置型兩款，根據(jù)不同的應用場景及實驗需求而定。材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率會因入射角度變化而變化?？梢缘玫讲牧显谡肷鋾r得不到的信息，確定材料的最敏感角度，為進一步的研究提供有效依據(jù)。DCH40系列測試系統(tǒng)可以實現(xiàn)不同角度入射和接收，完成多種全角度模式的光譜測量。
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產(chǎn)品特點： ● 光譜范圍：200-2500nm ● 可快速多角度光譜測量 ● 軟件控制發(fā)射端和接收端的角度 ● 系統(tǒng)采取模塊化設計，拓展性強 ● 根據(jù)不同測量應用，可選不同的光源、濾光片、 偏振片等配件完成不同的測量應用 |
應用領(lǐng)域： ● 納米光學材料 ● 傳感器器件制備 ● 光子晶體器件 ● 角度相關(guān)材料分析
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技術(shù)參數(shù)：
光譜范圍 | 200-2500nm | 光錐半角 | 3° | 入射范圍 | -90°-90° | 出射范圍 | 0-320° | 最小步距 | 0.005° | 重復精度 | 0.05° | 測量模式 | 反射測量、透射測量、散射測量、熒光測量、輻射測量 | 樣品臺 | 高精度三維位移臺+三維旋轉(zhuǎn)臺 |
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